电容的失效模式和失效机理（一）
电容器的常见失效模式有：击穿短路；致命失效――开路；致命失效 ――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等。
失效模式的失效机理
一、引起电容器击穿的主要失效机理
①电介质材料有疵点或缺陷，或含有导电杂质或导电粒子；②电介质的电老化与热老化；③电介质内部的电化学反应；④银离子迁移；⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤；⑥电介质分子结构改变； ⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧； ⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路。
二、引起电容器开路的主要失效机理
①引线部位发生“自愈“，使电极与引出线绝缘；②引出线与电极接触表面氧化，造成低电平开路；③引出线与电极接触不良；④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂；⑤液体电解质干涸或冻结；⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。
三、引起电容器电参数恶化的主要失效机理
①受潮或表面污染；②银离子迁移；③自愈效应； ④电介质电老化与热老化；⑤工作电解液挥发和变稠；⑥电极腐蚀； ⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀；⑧杂质与有害离子的作用；⑨引出线和电极的接触电阻增大。
同一失效模式有多种失效机理，同一失效机理又可产生多种失效模式。失效模式与失效机理之间的关系不是一一对应的。
编辑：admin 最后修改时间：2018-01-05
