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电容的失效模式和失效机理(一)

作者:admin 来源:不详 发布时间:2018-01-05  浏览:24

电容器的常见失效模式有:击穿短路;致命失效――开路;致命失效 ――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等。

电容

  失效模式的失效机理

  一、引起电容器击穿的主要失效机理

  ①电介质材料有疵点或缺陷,或含有导电杂质或导电粒子;②电介质的电老化与热老化;③电介质内部的电化学反应;④银离子迁移;⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤;⑥电介质分子结构改变; ⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧; ⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路。


  二、引起电容器开路的主要失效机理

  ①引线部位发生“自愈“,使电极与引出线绝缘;②引出线与电极接触表面氧化,造成低电平开路;③引出线与电极接触不良;④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂;⑤液体电解质干涸或冻结;⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。


  三、引起电容器电参数恶化的主要失效机理

  ①受潮或表面污染;②银离子迁移;③自愈效应; ④电介质电老化与热老化;⑤工作电解液挥发和变稠;⑥电极腐蚀; ⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀;⑧杂质与有害离子的作用;⑨引出线和电极的接触电阻增大。


  同一失效模式有多种失效机理,同一失效机理又可产生多种失效模式。失效模式与失效机理之间的关系不是一一对应的。


编辑:admin  最后修改时间:2018-01-05

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