NI 发布业界最高精度的 PXI 电源量测单元
NI国家仪器身为平台式系统供应商，可协助工程师与科学家解决全球最艰鉅的工程挑战，并于近日推出NIPXIe-4135电源量测单元（SMU）提供10 fA的量测灵敏度与高达200V的电压输出。透过NI PXI SMU的灵活弹性、高信道数密度、绝佳的测试输出率，工程师可使用NIPXIe-4135 SMU量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC的特性测试等多种应用。
“我们的行内参数测试必须撷取数百万个资料点，过程中常会产生数微微安培的泄漏电流，”IMEC研究员Bart De Wachter博士表示。“新款NI PXI SMU可准确量测这些低电流讯号，并同时享有PXI平台的快速除错与LabVIEW提供的系统设计弹性。”
工程师可透过模组化NI PXI SMU打造体积精巧、平行的多信道数系统，并享有多达68个SMU通道的单一PXI机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。此外，使用者可善用高速通讯汇流排、精确的硬件序列与数码控制回路技术，藉此提高测试输出率并客制微调任何待测设备的SMU响应。使用者也可以运用软件控制SMU响应，不仅可缩短SMU趋稳作业漫长的等待时间，还能藉由软件的弹性减少过冲与震荡，即使是高电容负载也一样。
“半导体设备越来越复杂，我们必须重新思考传统的研究方法、特性测试与稳定度量测，这也正是我们投资SMUPXI的主要原因。”NI自动化测试总监Luke Schreier如此表示。“NI SMU不仅可降低测试时间、增加信道密度，现在还能提供10 fA灵敏度、更优良的量测品质。”
NI PXI SMU使用互动式软件人机界面执行基本量测并为自动化应用除错，其操作的简易程度是箱型SMU无法达成的。此驱动程序提供辅助档案、文件与立即可用的范例程序，藉以协助测试程序码的开发，另外还提供程序设计界面，可搭配C、Microsoft .NET与LabVIEW系统设计软件等多种开发环境。工程师也可使用NI PXI SMU搭配NI TestStand测试管理软件，藉此简化测试系统在实验室与生产线上的建置与部署。
编辑：admin 最后修改时间：2018-01-05
